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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1793位 14件
（
2016年：第1441位 17件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1003位 21件
（2016年：第732位 33件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6253618 | ＥＢＳＰパターンの取得方法 | 2017年12月27日 | |
| 特許 6244081 | 荷電粒子ビームのフィルタ、集束イオンビームカラム及びイオンのフィルタリング方法 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6239322 | 複合粒子光学レンズの使用方法 | 2017年11月29日 | |
| 特許 6224573 | ナノ結晶カーボン自立薄膜の製造方法 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6202870 | ＥＤＳ信号の解析方法 | 2017年 9月27日 | |
| 特許 6195699 | 検査方法及び荷電粒子顕微鏡 | 2017年 9月13日 | |
| 特許 6192618 | 環境制御型透過電子顕微鏡の使用方法 | 2017年 9月 6日 | |
| 特許 6192682 | 走査型顕微鏡における数学的画像構築 | 2017年 9月 6日 | |
| 特許 6162187 | 透過型荷電粒子顕微鏡内で分光を実行する方法 | 2017年 7月12日 | |
| 特許 6155123 | 合成されたスペクトルデータを用いた分光法 | 2017年 6月28日 | |
| 特許 6151138 | 荷電粒子顕微鏡内において試料の断層撮像を実行する方法 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6151395 | マルチノズルを有するガス注入システム、並びに、それを備えた粒子光学機器及びその使用方法 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6143487 | 電子顕微鏡用のガラス化された試料を作製する方法 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6128746 | イオンビームカラム | 2017年 5月17日 | |
| 特許 6130644 | プローブによって試料を走査する方法 | 2017年 5月17日 |
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6253618 6244081 6239322 6224573 6202870 6195699 6192618 6192682 6162187 6155123 6151138 6151395 6143487 6128746 6130644
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