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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1011位 26件
（
2019年：第1618位 15件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1945位 8件
（2019年：第3977位 3件）
（ランキング更新日：2025年3月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6794269 | 荷電粒子ビーム誘起エッチング | 2020年12月 2日 | |
| 特許 6778081 | 非点収差補償及びエネルギー選択を備える荷電粒子顕微鏡 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6771877 | 荷電粒子顕微鏡およびその使用方法 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6736336 | 荷電粒子機器の真空チャンバ内でサンプルを操作する方法 | 2020年 8月 5日 | |
| 特許 6692217 | 荷電粒子顕微鏡において、試料の表面修正を分析する方法 | 2020年 5月13日 | |
| 特許 6685764 | パルス処理 | 2020年 4月22日 | |
| 特許 6660150 | 荷電粒子顕微鏡における非接触温度測定 | 2020年 3月 4日 | |
| 特許 6636061 | ＴＥＭ内での特徴のない薄膜の位置合わせ | 2020年 1月29日 |
8 件中 1-8 件を表示
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6794269 6778081 6771877 6736336 6692217 6685764 6660150 6636061
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