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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7181832	Ａｌｖａｒｅｚ－Ｍａｃｏｖｓｋｉ減衰モデルを使用した断層像再構成におけるＸ線ビームハードニング補正	2022年12月 1日
特許 7178168	時間分解された荷電粒子顕微鏡法	2022年11月25日
特許 7166964	π線最適化を使用するコンピュータ断層撮影投影の幾何学的整合、被検体動き補正および強度正規化	2022年11月 8日
特許 7145776	走査透過荷電粒子顕微鏡におけるインテリジェントプレスキャン	2022年10月 3日
特許 7126439	ＴＥＭ薄片作成用のサンプル配向の方法	2022年 8月26日
特許 7117107	衝突イオン化源	2022年 8月12日
特許 7113613	欠陥分析	2022年 8月 5日
特許 7105647	透過型荷電粒子顕微鏡における回折パターン検出	2022年 7月25日
特許 7103926	改善されたＥＥＬＳ／ＥＦＴＥＭモジュールを有する透過型荷電粒子顕微鏡およびその使用方法	2022年 7月20日
特許 7080674	荷電粒子顕微鏡における収差測定	2022年 6月 6日
特許 7079135	荷電粒子顕微鏡のガンレンズ設計	2022年 6月 1日
特許 7068811	Ｘ線イメージングの統計的分析	2022年 5月17日
特許 7050412	新しい種類の電子ビーム誘起表面処理技法を使用したナノファブリケーション	2022年 4月 8日
特許 7048703	荷電粒子ビーム誘起エッチング	2022年 4月 5日
特許 7046746	Ｘ線生成のための薄片成形されたターゲット	2022年 4月 4日

19 件中 1-15 件を表示

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7181832 7178168 7166964 7145776 7126439 7117107 7113613 7105647 7103926 7080674 7079135 7068811 7050412 7048703 7046746

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