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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7604743	ヒステリシス補償のシステムおよび方法	2024年12月24日
特許 7600493	クランプ補償のシステムおよび方法	2024年12月17日
特許 7597287	透過型電子顕微鏡のための自動データ取得方法	2024年12月10日
特許 7596622	電子顕微鏡用光ガイドアセンブリ	2024年12月10日
特許 7596621	極低温電子顕微鏡用のサンプルを調製するための方法および装置	2024年12月10日
特許 7592956	ローレンツＥＭ用補正器転送光学系	2024年12月 3日
特許 7592955	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2024年12月 3日
特許 7592959	ＲＦパルス化電子ビームベースのＳＴＥＭのためのシステムおよび方法	2024年12月 3日
特許 7593595	電子回折ホログラフィ	2024年12月 3日
特許 7589414	電子顕微鏡ステージ	2024年11月26日
特許 7582590	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2024年11月13日
特許 7571365	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2024年10月23日
特許 7570818	二次顕微鏡検出器からの画像を使用した一次顕微鏡検出器からのラベル付き画像の自動生成	2024年10月22日
特許 7560009	比較ホログラフィックイメージング	2024年10月 2日
特許 7544320	オブジェクト位置特定のための機械学習による低ｋｅＶイオンビーム画像復元	2024年 9月 3日

34 件中 1-15 件を表示

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7604743 7600493 7597287 7596622 7596621 7592956 7592955 7592959 7593595 7589414 7582590 7571365 7570818 7560009 7544320

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