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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7386771	マルチモーダル極低温適合性ＧＵＩＤグリッド	2023年11月27日
特許 7378359	荷電粒子分析のための生体試料の調製および送達のためのシステムおよび方法	2023年11月13日
特許 7378366	共振ＲＦ空洞の誘電体インサートへのコーティング	2023年11月13日
特許 7374860	分子構造を決定するための方法およびシステム	2023年11月 7日
特許 7373906	透過荷電粒子顕微鏡検査における革新的撮像方法	2023年11月 6日
特許 7368124	撮像分解能を向上させた電子顕微鏡	2023年10月24日
特許 7366953	荷電粒子ビーム源	2023年10月23日
特許 7337656	荷電粒子装置で調査するための生体試料を調製する方法	2023年 9月 4日
特許 7336926	性能が向上されたマルチ電子ビーム撮像装置	2023年 9月 1日
特許 7324062	マルチビーム荷電粒子撮像装置	2023年 8月 9日
特許 7313313	レーザベースの位相板画像コントラスト操作	2023年 7月24日
特許 7299812	複数のリフトアウト針を含むチップ、マイクロマニピュレータ及びマイクロマニピュレータを調製するためのシステム	2023年 6月28日
特許 7278983	マルチビーム走査透過荷電粒子顕微鏡	2023年 5月22日
特許 7273490	荷電粒子顕微鏡等のための極低温サンプルの改良された調製	2023年 5月15日
特許 7273541	透過荷電粒子顕微鏡における動的試料の調査法および透過荷電粒子顕微鏡	2023年 5月15日

18 件中 1-15 件を表示

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7386771 7378359 7378366 7374860 7373906 7368124 7366953 7337656 7336926 7324062 7313313 7299812 7278983 7273490 7273541

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