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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1542位 15件
（
2017年：第1793位 14件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第930位 22件
（2017年：第1003位 21件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6437020 | 荷電粒子顕微鏡を使用する方法及び荷電粒子顕微鏡 | 2018年12月12日 | |
| 特許 6434944 | 荷電粒子顕微鏡用の極低温サンプルの調製 | 2018年12月 5日 | |
| 特許 6434945 | ポストカラムフィルタ（ＰＣＦ）を作動させる方法、およびポストカラムフィルタ（ＰＣＦ） | 2018年12月 5日 | |
| 特許 6418747 | 試料調製ステージ | 2018年11月 7日 | |
| 特許 6416809 | 荷電粒子顕微鏡用のサンプルの調製 | 2018年10月31日 | |
| 特許 6416825 | タイコグラフィックイメージングの方法 | 2018年10月31日 | |
| 特許 6400283 | 設定可能な荷電粒子装置 | 2018年10月 3日 | |
| 特許 6389671 | 荷電粒子ビームを集束させる磁気レンズ | 2018年 9月12日 | |
| 特許 6359166 | Ｘ線トモグラフィーのための配置 | 2018年 7月18日 | |
| 特許 6353154 | イオンビーム生成のための革新的なソースアセンブリ | 2018年 7月 4日 | |
| 特許 6347594 | サンプルをサンプリングし得られた情報の表示方法 | 2018年 6月27日 | |
| 特許 6333462 | 画像蓄積方法及び走査型顕微鏡 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6317900 | 高圧冷凍機で用いるための協働するキャピラリーとキャップ | 2018年 4月25日 | |
| 特許 6291403 | 透過型電子顕微鏡用位相板を清浄化する方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294017 | 高圧冷凍材料からの電子顕微鏡用試料の作製 | 2018年 3月14日 |
22 件中 1-15 件を表示
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6437020 6434944 6434945 6418747 6416809 6416825 6400283 6389671 6359166 6353154 6347594 6333462 6317900 6291403 6294017
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