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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第7679位 2件 (2023年:第35905位 0件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1722位 11件 (2023年:第6302位 2件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7587144 | チップ剥離装置 | 2024年11月20日 | |
特許 7578875 | 検査治具 | 2024年11月 7日 | |
特許 7522376 | 画像検査方法 | 2024年 7月25日 | |
特許 7486715 | 外観検査装置及び外観検査方法 | 2024年 5月20日 | |
特許 7473810 | プローブ及び検査装置 | 2024年 4月24日 | |
特許 7473812 | 検査装置 | 2024年 4月24日 | |
特許 7453552 | 欠陥評価方法及びプログラム | 2024年 3月21日 | |
特許 7426575 | 外観検査装置 | 2024年 2月 2日 | |
特許 7425305 | 検査治具及び検査装置 | 2024年 1月31日 | |
特許 7415215 | 外観検査装置 | 2024年 1月17日 | |
特許 7415216 | 外観検査装置 | 2024年 1月17日 |
11 件中 1-11 件を表示
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7587144 7578875 7522376 7486715 7473810 7473812 7453552 7426575 7425305 7415215 7415216
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1月11日(土) -
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1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月14日(火) - 東京 港区
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