アンリツ株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第378位 96件
（
2017年：第526位 72件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第432位 61件
（
2017年：第387位 69件）
（ランキング更新日：2025年12月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6291313 | 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6293015 | 出力測定装置用アダプタ | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6293627 | 画像表示装置及び画像表示方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6289435 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6290798 | ＯＦＤＲ装置 | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6280574 | 移動端末試験装置とそのスループット測定方法 | 2018年 2月14日 | |
| 特許 6275084 | ノイズフロアレベル低減装置及びノイズフロアレベル低減方法 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276805 | 移動体端末アンテナ結合模擬回路 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6270762 | ＩＣ回路 | 2018年 1月31日 | |
| 特許 6262182 | 移動端末試験装置および移動端末試験装置用局部発振周波数検出方法 | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6262306 | 判定帰還型等化器及び判定帰還型等化方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6263163 | シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法 | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6263215 | 発振回路及び発振方法 | 2018年 1月17日 | |
| 特許 6259742 | 試験装置及びその校正方法 | 2018年 1月10日 | |
| 特許 6259852 | 発振回路及び発振方法 | 2018年 1月10日 |
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6291313 6293015 6293627 6289435 6290798 6280574 6275084 6276805 6270762 6262182 6262306 6263163 6263215 6259742 6259852
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