株式会社リガク
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1102位 23件
（
2022年：第1130位 22件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第834位 28件
（2022年：第1089位 20件）
（ランキング更新日：2024年11月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7265234 | 単結晶Ｘ線構造解析装置とそのための方法 | 2023年 4月26日 | |
| 特許 7252654 | 単結晶Ｘ線構造解析試料の吸蔵装置及び吸蔵方法 | 2023年 4月 5日 | |
| 特許 7249666 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2023年 3月31日 | |
| 特許 7237373 | 単結晶Ｘ線構造解析装置および試料ホルダ取り付け装置 | 2023年 3月13日 | |
| 特許 7237374 | 単結晶Ｘ線構造解析装置と方法、そのための試料ホルダ及びアプリケータ | 2023年 3月13日 | |
| 特許 7233756 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2023年 3月 7日 | |
| 特許 7221536 | 散乱測定解析方法、散乱測定解析装置、及び散乱測定解析プログラム | 2023年 2月14日 | |
| 特許 7218958 | Ｘ線分析装置及び波高値予測プログラム | 2023年 2月 7日 | |
| 特許 7217943 | 投影像の撮影方法、制御装置、制御プログラム、処理装置および処理プログラム | 2023年 2月 6日 | |
| 特許 7217528 | 処理装置、システム、Ｘ線測定方法およびプログラム | 2023年 2月 3日 | |
| 特許 7217018 | Ｘ線測定装置およびシステム | 2023年 2月 2日 | |
| 特許 7210065 | 透過型小角散乱装置 | 2023年 1月23日 | |
| 特許 7205891 | Ｘ線解析、Ｘ線回折データを処理する方法及び装置 | 2023年 1月17日 |
28 件中 16-28 件を表示
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7265234 7252654 7249666 7237373 7237374 7233756 7221536 7218958 7217943 7217528 7217018 7210065 7205891
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