日本電子株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第557位 66件
（
2016年：第499位 67件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第563位 44件
（
2016年：第600位 43件）
（ランキング更新日：2025年3月24日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6249169 | 流通分析装置および流通分析方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6246647 | 電子銃、三次元積層造形装置及び電子銃制御方法 | 2017年12月13日 | |
| 特許 6242141 | 質量分析装置、同定方法、およびプログラム | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6242252 | 自動分析装置及び異常検出方法 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6242260 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6242282 | ドリフト量計算装置、ドリフト量計算方法、および荷電粒子線装置 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6242291 | 相分析装置、相分析方法、および表面分析装置 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6228858 | 粒子解析装置、およびプログラム | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6228870 | 検出器および荷電粒子線装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6219741 | 多極子レンズの製造方法、多極子レンズ、および荷電粒子線装置 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6219747 | 荷電粒子線描画装置 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6219757 | 自動分析装置及び異常判定方法 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6219761 | ミコール酸分析方法及び装置 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6210493 | 荷電粒子ビーム照射装置及び荷電粒子ビーム照射方法 | 2017年10月11日 | |
| 特許 6207305 | クリーニング装置 | 2017年10月 4日 |
46 件中 1-15 件を表示
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6249169 6246647 6242141 6242252 6242260 6242282 6242291 6228858 6228870 6219741 6219747 6219757 6219761 6210493 6207305
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