日本電子株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第365位 105件
（
2018年：第451位 73件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第477位 50件
（
2018年：第455位 57件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2019-90747 | スペクトル解析装置及び方法 | 2019年 6月13日 | |
| 特開 2019-91561 | 荷電粒子線装置 | 2019年 6月13日 | |
| 特開 2019-91715 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の作動方法 | 2019年 6月13日 | |
| 特開 2019-86455 | データ処理装置及びデータ処理方法 | 2019年 6月 6日 | |
| 特開 2019-87337 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 | 2019年 6月 6日 | |
| 特開 2019-87338 | 検出装置 | 2019年 6月 6日 | |
| 特開 2019-87369 | 電子顕微鏡及びプログラム | 2019年 6月 6日 | |
| 特開 2019-87744 | 評価方法および荷電粒子ビーム装置 | 2019年 6月 6日 | |
| 特開 2019-82430 | 電子スピン共鳴測定装置及び方法 | 2019年 5月30日 | |
| 特開 2019-83179 | 試料ホルダ | 2019年 5月30日 | |
| 特開 2019-74391 | 質量分析用データ処理装置及び質量分析用データ処理方法 | 2019年 5月16日 | |
| 特開 2019-75286 | 電子顕微鏡および試料傾斜角の調整方法 | 2019年 5月16日 | |
| 特開 2019-75288 | 荷電粒子線装置 | 2019年 5月16日 | |
| 特開 2019-70547 | 質量分析データ処理装置及び質量分析データ処理方法 | 2019年 5月 9日 | |
| 特開 2019-70553 | 自動分析装置及び動作量補正方法 | 2019年 5月 9日 |
108 件中 61-75 件を表示
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2019-90747 2019-91561 2019-91715 2019-86455 2019-87337 2019-87338 2019-87369 2019-87744 2019-82430 2019-83179 2019-74391 2019-75286 2019-75288 2019-70547 2019-70553
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