日本電子株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第365位 105件
（
2018年：第451位 73件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第477位 50件
（
2018年：第455位 57件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特許 6622056
|
検出装置および荷電粒子線装置 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6622061
|
荷電粒子線装置 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6622081
|
核磁気共鳴測定装置及び排ガス処理方法 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6595856
|
荷電粒子装置および測定方法 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6595907
|
自動分析装置および自動分析方法 | 2019年10月23日 | |
| 特許 6595922
|
マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム | 2019年10月23日 | |
| 特許 6588362
|
相分析装置、相分析方法、および表面分析装置 | 2019年10月 9日 | |
| 特許 6588644
|
核磁気共鳴プローブの多重共鳴回路の誘導結合および使用方法 | 2019年10月 9日 | |
| 特許 6582314
|
３次元像構築方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 | 2019年10月 2日 | |
| 特許 6576724
|
分析装置および分析方法 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6576751
|
分析方法およびＸ線光電子分光装置 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6576823
|
固体撮像素子のクリーニング方法および放射線検出装置 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6573524
|
検体ラック搬送装置及び自動分析システム | 2019年 9月11日 | |
| 特許 6573541
|
容器供給ユニット及び自動分析装置 | 2019年 9月11日 | |
| 特許 6573542
|
自動分析装置 | 2019年 9月11日 |
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6622056 6622061 6622081 6595856 6595907 6595922 6588362 6588644 6582314 6576724 6576751 6576823 6573524 6573541 6573542
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