日本電子株式会社
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第463位 68件
（
2022年：第372位 91件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第390位 78件
（2022年：第298位 101件）
（ランキング更新日：2025年6月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2023-26165 | 三次元積層造形装置 | 2023年 2月24日 | |
| 特開 2023-16326 | 電子顕微鏡及び収差補正方法 | 2023年 2月 2日 | |
| 特開 2023-15633 | 分析装置および画像処理方法 | 2023年 2月 1日 | |
| 特開 2023-13518 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2023年 1月26日 | |
| 特開 2023-13543 | 三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 | 2023年 1月26日 | |
| 特開 2023-9388 | 電子顕微鏡及び画像生成方法 | 2023年 1月20日 | |
| 特開 2023-9854 | 走査電子顕微鏡および対物レンズ | 2023年 1月20日 | |
| 特開 2023-8478 | 電子顕微鏡及び検出ユニット | 2023年 1月19日 | |
| 特開 2023-6259 | 試料加工装置およびシールド | 2023年 1月18日 | |
| 特開 2023-7094 | 走査電子顕微鏡 | 2023年 1月18日 | |
| 特開 2023-3547 | 試料観察方法およびカートリッジ | 2023年 1月17日 | |
| 特開 2023-4546 | ステージ装置および電子ビーム描画装置 | 2023年 1月17日 | |
| 特開 2023-1441 | 電子ビーム検査装置 | 2023年 1月 6日 | |
| 特開 2023-755 | マススペクトル処理装置及びマススペクトル処理方法 | 2023年 1月 4日 |
74 件中 61-74 件を表示
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2023-26165 2023-16326 2023-15633 2023-13518 2023-13543 2023-9388 2023-9854 2023-8478 2023-6259 2023-7094 2023-3547 2023-4546 2023-1441 2023-755
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