※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2023年 出願公開件数ランキング 第463位 68件
(2022年:第372位 91件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第390位 78件
(2022年:第298位 101件)
(ランキング更新日:2025年5月8日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2023-26165 | 三次元積層造形装置 | 2023年 2月24日 | |
特開 2023-16326 | 電子顕微鏡及び収差補正方法 | 2023年 2月 2日 | |
特開 2023-15633 | 分析装置および画像処理方法 | 2023年 2月 1日 | |
特開 2023-13518 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2023年 1月26日 | |
特開 2023-13543 | 三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 | 2023年 1月26日 | |
特開 2023-9388 | 電子顕微鏡及び画像生成方法 | 2023年 1月20日 | |
特開 2023-9854 | 走査電子顕微鏡および対物レンズ | 2023年 1月20日 | |
特開 2023-8478 | 電子顕微鏡及び検出ユニット | 2023年 1月19日 | |
特開 2023-6259 | 試料加工装置およびシールド | 2023年 1月18日 | |
特開 2023-7094 | 走査電子顕微鏡 | 2023年 1月18日 | |
特開 2023-3547 | 試料観察方法およびカートリッジ | 2023年 1月17日 | |
特開 2023-4546 | ステージ装置および電子ビーム描画装置 | 2023年 1月17日 | |
特開 2023-1441 | 電子ビーム検査装置 | 2023年 1月 6日 | |
特開 2023-755 | マススペクトル処理装置及びマススペクトル処理方法 | 2023年 1月 4日 |
74 件中 61-74 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2023-26165 2023-16326 2023-15633 2023-13518 2023-13543 2023-9388 2023-9854 2023-8478 2023-6259 2023-7094 2023-3547 2023-4546 2023-1441 2023-755
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
東京都新宿区西新宿8-1-9 シンコービル 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都豊島区東池袋3-1-1 サンシャイン60 45階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 コンサルティング
大阪府大阪市中央区南本町二丁目2番9号 辰野南本町ビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング