日本電子株式会社
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（
2022年：第372位 91件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第390位 78件
（2022年：第298位 101件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特許 7403338
|
試料ガス分析システム及び方法 | 2023年12月22日 | |
| 特許 7403517
|
放射線検出装置および試料分析装置 | 2023年12月22日 | |
| 特許 7390210
|
スペクトル処理装置及び方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7390270
|
質量分析システム及び変換式補正方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7390327
|
三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7390343
|
散布図表示装置、散布図表示方法、および分析装置 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7387599
|
クックソン型誘導体化試薬、クックソン型誘導体化試薬の製造方法、エン化合物の製造方法、およびエン化合物の分析方法 | 2023年11月28日 | |
| 特許 7382299
|
荷電粒子線装置 | 2023年11月16日 | |
| 特許 7382367
|
電子顕微鏡及び収差補正方法 | 2023年11月16日 | |
| 特許 7369733
|
ＮＭＲプローブ装置 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369736
|
質量分析方法及び情報処理装置 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369738
|
マススペクトル処理装置及びマススペクトル処理方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369747
|
荷電粒子線装置および画像調整方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369752
|
電子顕微鏡及び電子顕微鏡の制御方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7357485
|
可変コンデンサ及びＮＭＲプローブ | 2023年10月 6日 |
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7403338 7403517 7390210 7390270 7390327 7390343 7387599 7382299 7382367 7369733 7369736 7369738 7369747 7369752 7357485
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