日本電子株式会社
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（
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■ 2023年 特許取得件数ランキング 第389位 78件
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7403517 | 放射線検出装置および試料分析装置 | 2023年12月22日 | |
| 特許 7403338 | 試料ガス分析システム及び方法 | 2023年12月22日 | |
| 特許 7390343 | 散布図表示装置、散布図表示方法、および分析装置 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7390327 | 三次元積層造形装置および三次元積層造形方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7390270 | 質量分析システム及び変換式補正方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7390210 | スペクトル処理装置及び方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特許 7387599 | クックソン型誘導体化試薬、クックソン型誘導体化試薬の製造方法、エン化合物の製造方法、およびエン化合物の分析方法 | 2023年11月28日 | |
| 特許 7382299 | 荷電粒子線装置 | 2023年11月16日 | |
| 特許 7382367 | 電子顕微鏡及び収差補正方法 | 2023年11月16日 | |
| 特許 7369736 | 質量分析方法及び情報処理装置 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369733 | ＮＭＲプローブ装置 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369738 | マススペクトル処理装置及びマススペクトル処理方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369752 | 電子顕微鏡及び電子顕微鏡の制御方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7369747 | 荷電粒子線装置および画像調整方法 | 2023年10月26日 | |
| 特許 7357741 | 評価方法および荷電粒子ビーム装置 | 2023年10月 6日 |
82 件中 1-15 件を表示
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7403517 7403338 7390343 7390327 7390270 7390210 7387599 7382299 7382367 7369736 7369733 7369738 7369752 7369747 7357741
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