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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-169418	試験測定装置及びユーザ・インタフェースを提供する方法	2024年12月 5日
特開 2024-166108	試験測定アクセサリ	2024年11月28日
特開 2024-161916	ヒート・スプレッダ及び集積回路アセンブリ	2024年11月20日
特開 2024-159737	試験測定装置及び被試験適応型システムの試験方法	2024年11月 8日
特開 2024-151327	試験測定装置及び三相モータの欠陥検出方法	2024年10月24日
特開 2024-149474	広帯域バラン構造体及び試験測定システム	2024年10月18日
特開 2024-138219	試験測定システム及びデコード方法	2024年10月 8日
特開 2024-133440	通信ネットワーク、センサ・デバイス及び通信ネットワークの動作方法	2024年10月 2日
特開 2024-133448	試験測定装置及び波形生成方法	2024年10月 2日
特開 2024-133011	試験測定装置、試験測定装置の動作方法及び試験測定装置の校正方法	2024年10月 1日
特開 2024-133045	試験測定アクセサリ、試験測定システム及び電流測定方法	2024年10月 1日
特開 2024-125183	試験測定システム及びＮＦＣリスニング・デバイスによる応答の存在を判断する方法	2024年 9月13日
特表 2024-533542	着脱型バッテリ・パック付試験測定装置	2024年 9月12日
特表 2024-531970	被試験デバイスのエミュレーションのためのパラメータ制御を含む機械学習波形生成デジタル・ツイン	2024年 9月 3日
特開 2024-109547	試験測定装置及びジッタ補正方法	2024年 8月14日

43 件中 1-15 件を表示

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2024-169418 2024-166108 2024-161916 2024-159737 2024-151327 2024-149474 2024-138219 2024-133440 2024-133448 2024-133011 2024-133045 2024-125183 2024-533542 2024-531970 2024-109547

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