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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2025-539790	試験測定装置用の光学的に実装されたアナログＭＵＸアクセサリ	2025年12月 9日
特表 2025-539789	試験測定装置用分割経路多重化アクセサリ	2025年12月 9日
特開 2025-174954	波形生成システム及び方法	2025年11月28日
特開 2025-169939	試験測定システム及び被試験デバイスの試験方法	2025年11月14日
特表 2025-535788	制約、予測トラフィックの読み込み、プライベートなエンド・ツー・エンド暗号化によるアドホック機械学習トレーニング	2025年10月28日
特開 2025-156265	試験測定装置及びデータ分析方法	2025年10月14日
特開 2025-156213	試験測定装置及び信号処理方法	2025年10月14日
特開 2025-138861	オシロスコープ及び被試験信号を再現する方法	2025年 9月25日
特開 2025-138585	試験測定装置、ＤＵＴからの信号を圧縮的に検出する方法及びアナログ・デジタル・コンバータの配列	2025年 9月25日
特開 2025-134654	試験測定システム及びＡＩアシスタント生成方法	2025年 9月17日
特開 2025-130065	オシロスコープ及びノイズ補正方法	2025年 9月 5日
特開 2025-129065	オシロスコープ及び被試験信号の再構築方法	2025年 9月 3日
特開 2025-128038	ＰＣＢ基板及びＩＣダイ間の配線方法並びにＰＣＢ基板間の配線方法	2025年 9月 2日
特開 2025-124077	電流測定プローブ、試験測定システム及び電流測定方法	2025年 8月25日
特開 2025-111404	試験測定装置及び試験測定装置でＡＩアシスタントを利用する方法	2025年 7月30日

25 件中 1-15 件を表示

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2025-539790 2025-539789 2025-174954 2025-169939 2025-535788 2025-156265 2025-156213 2025-138861 2025-138585 2025-134654 2025-130065 2025-129065 2025-128038 2025-124077 2025-111404

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