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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第3542位 5件
(2015年:第4198位 4件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第2177位 8件
(2015年:第1502位 12件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6009351 | 検査画像内の分類のためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 | 2016年10月19日 | |
特許 5996635 | マルチスポット収集光学系 | 2016年 9月21日 | |
特許 5981838 | 検査画像内の欠陥を検出するためのシステム、方法及びコンピュータプログラム製品 | 2016年 8月31日 | |
特許 5945303 | 検査システム及び高速焦点変更方法 | 2016年 7月 5日 | |
特許 5924614 | 変調器及び該変調器を備える荷電粒子ビームシステム並びに荷電粒子ビームの変調方法 | 2016年 5月25日 | |
特許 5864455 | CADベースの位置合わせのためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 | 2016年 2月17日 | |
特許 5847841 | コヒーレンス低減のための方法及びシステム | 2016年 1月27日 | |
特許 5844114 | 検査システム及び高速焦点変更方法 | 2016年 1月13日 |
8 件中 1-8 件を表示
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6009351 5996635 5981838 5945303 5924614 5864455 5847841 5844114
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4月16日(水) - 東京 大田
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4月18日(金) -
4月18日(金) - 北海道 千代田区
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4月23日(水) - 東京 千代田区
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4月24日(木) - 東京 港区
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