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アプライド　マテリアルズ　イスラエル　リミテッド

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アプライド　マテリアルズ　イスラエル　リミテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7775333	キャップバイアス電圧を使用した傾斜モードのＳＥＭによる後方散乱電子（ＢＳＥ）撮像	2025年11月25日
特許 7770396	ＦＩＢ斜め切削を使用した孔の傾斜角の測定	2025年11月14日
特許 7760008	標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置	2025年10月24日
特許 7756055	半導体試料における局所的形状偏差	2025年10月17日
特許 7741775	半導体試料における側面凹部測定	2025年 9月18日
特許 7739083	ウエハ分析のための較正データを生成する方法およびシステム	2025年 9月16日
特許 7728486	ＧＩＳマニピュレータ用の断熱カバーによる堆積速度の向上	2025年 8月22日
特許 7699147	最適な焦束イオンビームエッチングのための適応形状寸法	2025年 6月26日
特許 7697017	透明基板を有するウエハ上に電子ビームを集束させる方法	2025年 6月23日
特許 7691392	半導体試料の調査のための画像生成	2025年 6月11日
特許 7675744	試料の構造要素に関する３次元情報の生成	2025年 5月13日
特許 7672613	均一なデレイヤリングのための高エネルギーＳＥＭ下堆積を用いた空構造体の充填	2025年 5月 8日
特許 7656445	疑わしい欠陥の位置の決定	2025年 4月 3日
特許 7648410	３次元情報の決定	2025年 3月18日
特許 7646458	半導体試料中のアレイの識別	2025年 3月17日

18 件中 1-15 件を表示

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7775333 7770396 7760008 7756055 7741775 7739083 7728486 7699147 7697017 7691392 7675744 7672613 7656445 7648410 7646458

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