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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第5643位 3件
(2016年:第3542位 5件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第2056位 8件
(2016年:第2177位 8件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6254763 | CADベースの位置合わせのためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 | 2017年12月27日 | |
特許 6228385 | CADベースのコンテクスト属性を利用した欠陥分類 | 2017年11月 8日 | |
特許 6223734 | 較正可能ビーム成形システム及び方法 | 2017年11月 1日 | |
特許 6206751 | 半導体ウェハの温度制御のためのシステム及び方法 | 2017年10月 4日 | |
特許 6197228 | 設計に基づく欠陥分類の方法及びそのシステム | 2017年 9月20日 | |
特許 6198240 | パターンエッジを検出するためのシステム、方法、及びコンピュータ可読媒体 | 2017年 9月20日 | |
特許 6152077 | 走査電子顕微鏡画像を用いた3次元マッピング | 2017年 6月21日 | |
特許 6096455 | 製造ツールのレシピを生成する方法及びそのシステム | 2017年 3月15日 |
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6254763 6228385 6223734 6206751 6197228 6198240 6152077 6096455
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