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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第1399位 17件
（
2021年：第2007位 11件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1898位 10件
（2021年：第2482位 6件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7177244 | 電子検出のためのセンサ | 2022年11月22日 | |
| 特許 7174117 | 閉ループ自動欠陥検査および分類 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7169393 | 半導体試料の検査に使用可能な訓練セットの生成 | 2022年11月10日 | |
| 特許 7159212 | 製造プロセス欠陥を検出するための方法、コンピュータプログラム製品およびシステム | 2022年10月24日 | |
| 特許 7157675 | 光検出器および光を検出するための方法 | 2022年10月20日 | |
| 特許 7150918 | 試料の検査のためのアルゴリズムモジュールの自動選択 | 2022年10月11日 | |
| 特許 7124156 | オーバーレイモニタリング | 2022年 8月23日 | |
| 特許 7053155 | 光学モジュールおよび検出方法 | 2022年 4月12日 | |
| 特許 7026140 | 半導体ウエハ上のパターン内の高低差の測定 | 2022年 2月25日 | |
| 特許 7025459 | 半導体試料の欠陥を分類する方法およびそのシステム | 2022年 2月24日 |
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7177244 7174117 7169393 7159212 7157675 7150918 7124156 7053155 7026140 7025459
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