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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第2497位 8件 (2019年:第2815位 7件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第2418位 6件 (2019年:第8774位 1件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6778997 | CADデータとSEM画像との位置合わせ | 2020年11月 4日 | |
特許 6778338 | 半導体ウエハを検査するための技法 | 2020年10月28日 | |
特許 6751286 | 荷電粒子ビーム試料検査システムおよびその動作方法 | 2020年 9月 2日 | |
特許 6728498 | 試験片を検査する方法および荷電粒子マルチビーム装置 | 2020年 7月22日 | |
特許 6722114 | 電子ビームシステムを使用した関心領域の検査 | 2020年 7月15日 | |
特許 6629934 | 試験方策を生成する方法およびそのシステム | 2020年 1月15日 |
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6778997 6778338 6751286 6728498 6722114 6629934
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
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11月22日(金) -
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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