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レーザーテック株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1299位 22件
（
2016年：第1667位 14件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1630位 11件
（2016年：第1862位 10件）
（ランキング更新日：2026年1月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6249502 | 測定装置、測定方法及び補正方法 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6249513 | 補正方法、補正装置及び検査装置 | 2017年12月20日 | |
| 特許 6241858 | 共焦点顕微鏡 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6226319 | 検査装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6210520 | 光源装置、検査装置及び光源装置の制御方法 | 2017年10月11日 | |
| 特許 6210525 | アライメント方法及びアライメント装置 | 2017年10月11日 | |
| 特許 6195253 | 検査装置、検査方法、及びプログラム | 2017年 9月13日 | |
| 特許 6150256 | リチウムイオン二次電池 | 2017年 6月21日 | |
| 特許 6146717 | 検査装置、及び検査方法 | 2017年 6月14日 | |
| 特許 6142996 | ビア形状測定装置及びビア検査装置 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6083772 | マスク検査装置及びマスク検査方法 | 2017年 2月22日 |
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6249502 6249513 6241858 6226319 6210520 6210525 6195253 6150256 6146717 6142996 6083772
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