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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第177位 207件
(
2021年:第181位 240件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第165位 203件
(
2021年:第165位 183件)
(ランキング更新日:2025年10月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7182654 | レーザ出力装置 | 2022年12月 2日 | |
| 特許 7181780 | レーザ加工装置 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181784 | モニタ装置、光学フィルタシステム、モニタ方法、電流発生装置 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181901 | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181972 | フォトンカウンティング装置およびフォトンカウンティング方法 | 2022年12月 1日 | |
| 特許 7181049 | 放射線撮像装置、放射線撮像装置の製造方法、及び放射線撮像装置の修復方法 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7181050 | 放射線撮像装置 | 2022年11月30日 | |
| 特許 7179669 | ミラーユニットの製造方法 | 2022年11月29日 | |
| 特許 7178819 | 半導体光検出装置 | 2022年11月28日 | |
| 特許 7176927 | CEMアセンブリおよび電子増倍デバイス | 2022年11月22日 | |
| 特許 7175598 | 脂肪計測装置 | 2022年11月21日 | |
| 特許 7174952 | スペクトル測定装置およびスペクトル測定方法 | 2022年11月18日 | |
| 特許 7174663 | イオン検出器 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174697 | 光学デバイス | 2022年11月17日 | |
| 特許 7171353 | レーザ加工方法、半導体デバイス製造方法及び検査装置 | 2022年11月15日 |
208 件中 16-30 件を表示
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7182654 7181780 7181784 7181901 7181972 7181049 7181050 7179669 7178819 7176927 7175598 7174952 7174663 7174697 7171353
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