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株式会社アドバンテスト

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  2023年 出願公開件数ランキング    第549位 56件 上昇2022年:第793位 34件)

  2023年 特許取得件数ランキング    第478位 58件 上昇2022年:第767位 32件)

(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特表 2023-536604 同期シグナリングを使用して被試験デバイスを試験するための自動試験機器、ハンドラ及び方法 2023年 8月28日
特表 2023-536605 双方向専用リアルタイムインターフェースを使用して被試験デバイスを試験するための自動試験機器、ハンドラ及び方法 2023年 8月28日
特表 2023-536606 試験サイト固有のシグナリングを使用して被試験デバイスを試験するための自動試験機器、ハンドラ及び方法 2023年 8月28日
特表 2023-536607 試験サイト固有のシグナリングを使用して被試験デバイスを試験するためのハンドラ、自動試験機器及び方法 2023年 8月28日
特表 2023-536608 追加のシグナリングを使用して被試験デバイスを試験するための自動試験機器、ハンドラ及び方法 2023年 8月28日
特開 2023-116051 電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置 2023年 8月22日
特開 2023-116053 電子部品ハンドリング装置、及び、電子部品試験装置 2023年 8月22日
特表 2023-534966 1つ以上の被試験デバイスをテストするための自動試験装置、方法およびコンピュータプログラムであって、異なるテストアクティビティが被試験デバイスのリソースのサブセットを使用する、自動試験装置、方法およびコンピュータプログラム 2023年 8月15日
特表 2023-533564 試験支援モジュールおよび自動試験機器の動作方法 2023年 8月 3日
特表 2023-531071 デバイス固有データを使用する自動試験機器及び方法 2023年 7月20日
特表 2023-531072 トリガ生成を用いた自動試験機器及び方法 2023年 7月20日
特表 2023-527180 試験システムにおいてデバイスインターフェースの較正データを記憶するための方法、デバイスインターフェース、試験システムおよびコンピュータプログラム 2023年 6月27日
特開 2023-85725 信号源特定装置、方法、プログラム、記録媒体 2023年 6月21日
特表 2023-520723 1つのクロックドメインから別のクロックドメインにデータを伝達するための回路 2023年 5月18日
特表 2023-520724 デジタルとアナログとの間で信号を変換するための回路 2023年 5月18日

57 件中 16-30 件を表示

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2023-536604 2023-536605 2023-536606 2023-536607 2023-536608 2023-116051 2023-116053 2023-534966 2023-533564 2023-531071 2023-531072 2023-527180 2023-85725 2023-520723 2023-520724

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