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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2015年 出願公開件数ランキング    第107位 423件 下降2014年:第59位 659件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第95位 287件 下降2014年:第54位 625件)

(ランキング更新日:2021年8月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2015-161554 パターン測定装置、及びパターン測定装置の管理装置 2015年 9月 7日
特開 2015-161578 ウェーハの検査方法および荷電粒子線装置 2015年 9月 7日
特開 2015-162266 プラズマ処理装置 2015年 9月 7日
特開 2015-162316 走査電子顕微鏡および画像生成方法 2015年 9月 7日
特開 2015-162393 収差補正器及びそれを用いた荷電粒子線装置 2015年 9月 7日
特開 2015-162396 ステージ装置およびそれを用いた荷電粒子線装置 2015年 9月 7日
特開 2015-162618 プラズマ処理装置 2015年 9月 7日
特開 2015-158374 反応セル、及び生化学自動分析装置 2015年 9月 3日
特開 2015-158426 分析装置及びその方法 2015年 9月 3日
特開 2015-152033 流路切り替えバルブおよび当該バルブを用いた液体クロマトグフラフ装置 2015年 8月24日
特開 2015-152405 遠赤外撮像装置、および遠赤外撮像方法 2015年 8月24日
特開 2015-152406 検体処理システム 2015年 8月24日
特開 2015-153528 走査荷電粒子顕微鏡画像の高画質化方法および走査荷電粒子顕微鏡装置 2015年 8月24日
特開 2015-153710 試料ホルダ、観察システム、および画像生成方法 2015年 8月24日
特開 2015-153804 半導体装置の製造方法 2015年 8月24日

423 件中 91-105 件を表示

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2015-161554 2015-161578 2015-162266 2015-162316 2015-162393 2015-162396 2015-162618 2015-158374 2015-158426 2015-152033 2015-152405 2015-152406 2015-153528 2015-153710 2015-153804

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