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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2015年出願公開件数ランキング　　　第107位　423件（2014年：第59位　659件）

　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第95位　287件（2014年：第54位　625件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2015-161554	パターン測定装置、及びパターン測定装置の管理装置	2015年 9月 7日
特開 2015-161578	ウェーハの検査方法および荷電粒子線装置	2015年 9月 7日
特開 2015-162266	プラズマ処理装置	2015年 9月 7日
特開 2015-162316	走査電子顕微鏡および画像生成方法	2015年 9月 7日
特開 2015-162393	収差補正器及びそれを用いた荷電粒子線装置	2015年 9月 7日
特開 2015-162396	ステージ装置およびそれを用いた荷電粒子線装置	2015年 9月 7日
特開 2015-162618	プラズマ処理装置	2015年 9月 7日
特開 2015-158374	反応セル、及び生化学自動分析装置	2015年 9月 3日
特開 2015-158426	分析装置及びその方法	2015年 9月 3日
特開 2015-152033	流路切り替えバルブおよび当該バルブを用いた液体クロマトグフラフ装置	2015年 8月24日
特開 2015-152405	遠赤外撮像装置、および遠赤外撮像方法	2015年 8月24日
特開 2015-152406	検体処理システム	2015年 8月24日
特開 2015-153528	走査荷電粒子顕微鏡画像の高画質化方法および走査荷電粒子顕微鏡装置	2015年 8月24日
特開 2015-153710	試料ホルダ、観察システム、および画像生成方法	2015年 8月24日
特開 2015-153804	半導体装置の製造方法	2015年 8月24日

423 件中 91-105 件を表示

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2015-161554 2015-161578 2015-162266 2015-162316 2015-162393 2015-162396 2015-162618 2015-158374 2015-158426 2015-152033 2015-152405 2015-152406 2015-153528 2015-153710 2015-153804

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