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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2015年出願公開件数ランキング　　　第107位　423件（2014年：第59位　659件）

　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第95位　287件（2014年：第54位　625件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2015-204181	イオンビーム装置	2015年11月16日
特開 2015-200509	三次元形状変化検出方法、及び三次元形状加工装置	2015年11月12日
特開 2015-200576	欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法	2015年11月12日
特開 2015-200658	欠陥検査方法及びその装置	2015年11月12日
特開 2015-201304	画像処理システム及び画像処理方法並びに画像処理システムを用いたＳＥＭ装置	2015年11月12日
特開 2015-201449	イオン化装置	2015年11月12日
特開 2015-197320	欠陥検査装置および検査方法	2015年11月 9日
特開 2015-197370	自動分析装置	2015年11月 9日
特開 2015-197385	孔形成方法及び測定装置	2015年11月 9日
特開 2015-197899	配列データ解析装置、ＤＮＡ解析システムおよび配列データ解析方法	2015年11月 9日
特開 2015-194499	流体混合器及び流体混合方法	2015年11月 5日
特開 2015-189931	紫外線照射装置、板状体貼り合わせ装置及び板状体貼り合わせ方法	2015年11月 2日
特開 2015-191196	板状体貼り合わせ装置及び板状体貼り合わせ方法	2015年11月 2日
特開 2015-191589	情報処理装置、情報処理方法、情報システムおよびプログラム	2015年11月 2日
特開 2015-191751	アクティブブレーキ、アクティブブレーキを備えた試料ステージ、及び荷電粒子装置	2015年11月 2日

423 件中 46-60 件を表示

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2015-204181 2015-200509 2015-200576 2015-200658 2015-201304 2015-201449 2015-197320 2015-197370 2015-197385 2015-197899 2015-194499 2015-189931 2015-191196 2015-191589 2015-191751

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