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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第95位　287件（2014年：第54位　625件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2015-185698	プラズマ処理装置	2015年10月22日
特開 2015-180884	液体混合装置、および液体クロマトグラフ	2015年10月15日
特開 2015-177768	検査装置	2015年10月 8日
特開 2015-175611	距離測定装置および距離測定システム	2015年10月 5日
特開 2015-175629	距離測定装置及び距離測定システム	2015年10月 5日
特開 2015-176683	静電チャック機構、及び荷電粒子線装置	2015年10月 5日
特開 2015-177108	プラズマ処理装置	2015年10月 5日
特開 2015-169452	半導体外観検査装置	2015年 9月28日
特開 2015-169623	分注装置及び分注方法	2015年 9月28日
特開 2015-170518	走査電子顕微鏡	2015年 9月28日
特開 2015-170539	欠陥観察装置及びその方法	2015年 9月28日
特開 2015-167141	イオンビーム加工・観察装置およびそれを用いたイオンビーム加工・観察方法	2015年 9月24日
特開 2015-165211	荷電粒子ビーム装置、校正用部材及び荷電粒子ビームの測定方法	2015年 9月17日
特開 2015-164091	電子顕微鏡	2015年 9月10日
特開 2015-161528	分析用試料前処理装置	2015年 9月 7日

423 件中 76-90 件を表示

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2015-185698 2015-180884 2015-177768 2015-175611 2015-175629 2015-176683 2015-177108 2015-169452 2015-169623 2015-170518 2015-170539 2015-167141 2015-165211 2015-164091 2015-161528

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