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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第259位 138件
(2021年:第126位 332件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第85位 351件
(2021年:第118位 240件)
(ランキング更新日:2025年9月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7150951 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2022年10月11日 | |
特許 7150981 | イオン選択性電極及び電解質濃度測定装置 | 2022年10月11日 | |
特許 7150993 | 荷電粒子線装置 | 2022年10月11日 | |
特許 7149810 | 自動分析装置 | 2022年10月 7日 | |
特許 7149906 | 走査電子顕微鏡及びパタン計測方法 | 2022年10月 7日 | |
特許 7150049 | パターン計測方法、計測システム、及びコンピュータ可読媒体 | 2022年10月 7日 | |
特許 7150131 | 培養容器ラック及び分析装置 | 2022年10月 7日 | |
特許 7150138 | 温度制御装置用送液カートリッジ | 2022年10月 7日 | |
特許 7149068 | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 | 2022年10月 6日 | |
特許 7149428 | 半導体装置製造システムおよび半導体装置製造方法 | 2022年10月 6日 | |
特許 7148467 | 荷電粒子線装置 | 2022年10月 5日 | |
特許 7148594 | 自動分析装置、自動分析方法 | 2022年10月 5日 | |
特許 7148644 | 探索装置、探索プログラム及びプラズマ処理装置 | 2022年10月 5日 | |
特許 7148714 | 荷電粒子ビームシステム、および荷電粒子線装置における観察条件を決定する方法 | 2022年10月 5日 | |
特許 7144667 | 自動分析装置および自動分析システム、ならびに試料の自動分析方法 | 2022年 9月30日 |
351 件中 76-90 件を表示
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7150951 7150981 7150993 7149810 7149906 7150049 7150131 7150138 7149068 7149428 7148467 7148594 7148644 7148714 7144667
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