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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第259位 138件
（
2021年：第126位 332件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第85位 351件
（
2021年：第118位 240件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7174066 | 自動分析装置 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174170 | 試料観察装置 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174604 | 光画像計測装置、光画像計測方法 | 2022年11月17日 | |
| 特許 7174773 | 荷電粒子線装置の調整方法及び荷電粒子線装置システム | 2022年11月17日 | |
| 特許 7173937 | 荷電粒子線装置 | 2022年11月16日 | |
| 特許 7171410 | ウェーハ搬送装置 | 2022年11月15日 | |
| 特許 7171460 | 検体検査装置、及びシステム | 2022年11月15日 | |
| 特許 7171506 | 自動分析装置、及び方法 | 2022年11月15日 | |
| 特許 7168542 | 電源モジュールおよび質量分析装置 | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7168669 | 電子顕微鏡を用いた微小電子デバイス特性評価装置及びそのプローブユニット | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7168767 | 自動分析装置 | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7168777 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7168794 | プラズマ処理装置の検査方法 | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7167323 | パターン計測装置および計測方法 | 2022年11月 8日 | |
| 特許 7166209 | 微生物検査キット、微生物検査方法及び微生物検査装置 | 2022年11月 7日 |
351 件中 31-45 件を表示
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7174066 7174170 7174604 7174773 7173937 7171410 7171460 7171506 7168542 7168669 7168767 7168777 7168794 7167323 7166209
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