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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第259位 138件
（
2021年：第126位 332件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第85位 351件
（
2021年：第118位 240件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7145337 | 真空処理装置の異物測定方法 | 2022年 9月30日 | |
| 特許 7144244 | パターン検査システム | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7144324 | プラズマ処理方法 | 2022年 9月29日 | |
| 特許 7142775 | 分析装置 | 2022年 9月27日 | |
| 特許 7142155 | 自動分析装置 | 2022年 9月26日 | |
| 特許 7141514 | 制御システムおよび当該制御システムを搭載した自動分析装置 | 2022年 9月22日 | |
| 特許 7141537 | 粒子定量装置 | 2022年 9月22日 | |
| 特許 7140610 | プラズマ処理装置 | 2022年 9月21日 | |
| 特許 7140853 | プラズマ処理装置、およびプラズマ処理方法 | 2022年 9月21日 | |
| 特許 7140902 | 荷電粒子線装置 | 2022年 9月21日 | |
| 特許 7139253 | 検体キャリア | 2022年 9月20日 | |
| 特許 7139525 | 自動分析装置 | 2022年 9月20日 | |
| 特許 7139528 | プラズマ処理装置 | 2022年 9月20日 | |
| 特許 7138783 | 自動分析装置 | 2022年 9月16日 | |
| 特許 7137943 | 探索装置、探索方法及びプラズマ処理装置 | 2022年 9月15日 |
351 件中 91-105 件を表示
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7145337 7144244 7144324 7142775 7142155 7141514 7141537 7140610 7140853 7140902 7139253 7139525 7139528 7138783 7137943
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