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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第221位 141件
（
2024年：第273位 126件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第75位 292件
（2024年：第83位 368件）
（ランキング更新日：2025年11月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7724381 | 分注装置及びそれを備えた遺伝子検査装置 | 2025年 8月15日 | |
| 特許 7723640 | 欠陥検査装置 | 2025年 8月14日 | |
| 特許 7723200 | 荷電粒子線装置 | 2025年 8月13日 | |
| 特許 7721654 | セプタ | 2025年 8月12日 | |
| 特許 7720410 | 自動分析装置 | 2025年 8月 7日 | |
| 特許 7720411 | 電気泳動装置 | 2025年 8月 7日 | |
| 特許 7719865 | 深さ計測装置、深さ計測システム及び深さ指標値算出方法 | 2025年 8月 6日 | |
| 特許 7719956 | 自動分析装置のデータ処理システム及び方法 | 2025年 8月 6日 | |
| 特許 7717956 | イオンミリング装置 | 2025年 8月 4日 | |
| 特許 7716442 | 装置診断装置、装置診断方法、プラズマ処理装置および半導体装置製造システム | 2025年 7月31日 | |
| 特許 7716479 | プラズマ処理方法 | 2025年 7月31日 | |
| 特許 7716485 | 分注装置及び分注方法 | 2025年 7月31日 | |
| 特許 7716506 | 捕集方法、検査方法、遠心装置および検査システム | 2025年 7月31日 | |
| 特許 7716571 | 分析システム、分析方法、分析プログラム | 2025年 7月31日 | |
| 特許 7716572 | 分析システム、分析方法、分析プログラム | 2025年 7月31日 |
294 件中 91-105 件を表示
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7724381 7723640 7723200 7721654 7720410 7720411 7719865 7719956 7717956 7716442 7716479 7716485 7716506 7716571 7716572
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