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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第297位 102件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第84位 334件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7516648 | 自動分析装置 | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7516674 | プラズマ処理装置および加熱装置 | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7515372 | 液体混合器、電解質分析装置及び液体混合方法 | 2024年 7月12日 | |
| 特許 7515624 | 核酸分析用フローセル及び核酸分析装置 | 2024年 7月12日 | |
| 特許 7515007 | 光フィルタリングデバイス、光フィルタリングデバイスの制御方法、ＭＥＭＳシャッタ | 2024年 7月11日 | |
| 特許 7515021 | 荷電粒子線装置及び磁界レンズの消磁方法 | 2024年 7月11日 | |
| 特許 7514316 | 検体容器キャリアおよび検体搬送装置 | 2024年 7月10日 | |
| 特許 7511819 | 非破壊検査装置の非破壊検査方法 | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7512227 | 自動分析装置 | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7512401 | 自動分析装置 | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7512429 | 真空処理装置および真空処理方法 | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7512508 | 液柱分離デバイス、システム、及び方法 | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7512520 | 真空処理装置 | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7512532 | コンピュータシステム、寸法計測方法、および半導体装置製造システム | 2024年 7月 8日 | |
| 特許 7511738 | 電解質測定装置、および電解質濃度測定ユニットの異常判定方法 | 2024年 7月 5日 |
337 件中 136-150 件を表示
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7516648 7516674 7515372 7515624 7515007 7515021 7514316 7511819 7512227 7512401 7512429 7512508 7512520 7512532 7511738
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12月1日(日) -
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新製品開発の「タネ」がみつかる！株式会社リコーによるシーズ発表会 ～リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか？～
12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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