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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第312位 124件 (2015年:第368位 100件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第372位 79件 (2015年:第339位 81件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6024938 | 半導体ウェーハの検査装置及び半導体ウェーハの検査方法 | 2016年11月16日 | |
特許 6025325 | ウェーハ研削方法 | 2016年11月16日 | |
特許 6025905 | 三次元座標測定機 | 2016年11月16日 | |
特許 6020758 | プローバ | 2016年11月 2日 | |
特許 6020869 | ウェーハ形状測定装置及び方法、並びにウェーハ面取り装置 | 2016年11月 2日 | |
特許 6015875 | プローバ | 2016年10月26日 | |
特許 6016150 | 研削スリップ条痕観察装置及び研削スリップ条痕観察方法 | 2016年10月26日 | |
特許 6017263 | ウェーハの形状測定装置 | 2016年10月26日 | |
特許 6011900 | プローバ | 2016年10月25日 | |
特許 6010827 | ダイシング装置及びダイシング方法 | 2016年10月19日 | |
特許 5995023 | 半導体基板の割断方法 | 2016年 9月21日 | |
特許 5995133 | ダイシング装置 | 2016年 9月21日 | |
特許 5995156 | プローブ装置及びプローブ方法 | 2016年 9月21日 | |
特許 5995497 | ウェーハ吸着装置およびウェーハ吸着方法 | 2016年 9月21日 | |
特許 5987967 | プロービング装置及びプローブコンタクト方法 | 2016年 9月 7日 |
79 件中 16-30 件を表示
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6024938 6025325 6025905 6020758 6020869 6015875 6016150 6017263 6011900 6010827 5995023 5995133 5995156 5995497 5987967
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11月28日(木) - 東京 港区
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12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月28日(木) - 東京 港区
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月4日(水) -
12月4日(水) -
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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