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株式会社東京精密

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 ■ 2016年 出願公開件数ランキング    第301位 123件 (上昇2015年:第354位 97件)

 ■ 2016年 特許取得件数ランキング    第370位 79件 (下降2015年:第339位 81件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6025905 三次元座標測定機 2016年11月16日
特許 6025325 ウェーハ研削方法 2016年11月16日
特許 6024938 半導体ウェーハの検査装置及び半導体ウェーハの検査方法 2016年11月16日
特許 6020758 プローバ 2016年11月 2日
特許 6020869 ウェーハ形状測定装置及び方法、並びにウェーハ面取り装置 2016年11月 2日
特許 6017263 ウェーハの形状測定装置 2016年10月26日
特許 6015875 プローバ 2016年10月26日
特許 6016150 研削スリップ条痕観察装置及び研削スリップ条痕観察方法 2016年10月26日
特許 6011900 プローバ 2016年10月25日
特許 6010827 ダイシング装置及びダイシング方法 2016年10月19日
特許 5995133 ダイシング装置 2016年 9月21日
特許 5995023 半導体基板の割断方法 2016年 9月21日
特許 5995156 プローブ装置及びプローブ方法 2016年 9月21日
特許 5995497 ウェーハ吸着装置およびウェーハ吸着方法 2016年 9月21日
特許 5987967 プロービング装置及びプローブコンタクト方法 2016年 9月 7日

79 件中 16-30 件を表示

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6025905 6025325 6024938 6020758 6020869 6017263 6015875 6016150 6011900 6010827 5995133 5995023 5995156 5995497 5987967

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