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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第782位 38件
（
2015年：第771位 39件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第808位 29件
（
2015年：第907位 23件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2016-50854 | 自動試料片作製装置 | 2016年 4月11日 | |
| 特開 2016-51591 | 荷電粒子ビーム装置 | 2016年 4月11日 | |
| 特開 2016-48216 | 蛍光Ｘ線分析装置及びその試料表示方法 | 2016年 4月 7日 | |
| 特開 2016-17823 | Ｘ線分析用試料板及び蛍光Ｘ線分析装置 | 2016年 2月 1日 | |
| 特開 2016-17862 | ３次元微動装置 | 2016年 2月 1日 | |
| 特開 2016-15323 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2016年 1月28日 | |
| 特開 2016-4033 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2016年 1月12日 | |
| 特開 2016-1606 | 複合集束イオンビーム装置及びそれを用いた試料加工方法 | 2016年 1月 7日 |
38 件中 31-38 件を表示
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2016-50854 2016-51591 2016-48216 2016-17823 2016-17862 2016-15323 2016-4033 2016-1606
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