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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第2187位 10件
（
2021年：第820位 35件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第842位 28件
（2021年：第743位 29件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2022-168237 | クロマトグラフデータ処理装置及び液体クロマトグラフ装置 | 2022年11月 4日 | |
| 特開 2022-141078 | 膜電極接合体の検査方法および検査装置 | 2022年 9月29日 | |
| 特開 2022-102776 | 分光蛍光光度計、分光蛍光測定方法及び画像撮像方法 | 2022年 7月 7日 | |
| 特開 2022-102777 | チューブポンプ | 2022年 7月 7日 | |
| 特開 2022-91556 | 赤外レーザ顕微鏡 | 2022年 6月21日 | |
| 特開 2022-71711 | プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の光軸調整方法 | 2022年 5月16日 | |
| 特開 2022-53475 | 液体クロマトグラフデータ処理装置、および液体クロマトグラフ装置 | 2022年 4月 5日 | |
| 特開 2022-40403 | 走査プローブ顕微鏡 | 2022年 3月10日 | |
| 特開 2022-33241 | 試料作製装置 | 2022年 2月28日 | |
| 特開 2022-13497 | Ｘ線分析装置 | 2022年 1月18日 | |
| 特開 2022-9601 | 荷電粒子ビーム装置、試料加工方法 | 2022年 1月14日 |
11 件中 1-11 件を表示
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2022-168237 2022-141078 2022-102776 2022-102777 2022-91556 2022-71711 2022-53475 2022-40403 2022-33241 2022-13497 2022-9601
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