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株式会社日立ハイテクサイエンス

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 ■ 2016年 出願公開件数ランキング    第763位 38件 (下降2015年:第725位 39件)

 ■ 2016年 特許取得件数ランキング    第808位 29件 (上昇2015年:第907位 23件)

(ランキング更新日:2026年10月15日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2016-223959 走査プローブ顕微鏡 2016年12月28日
特開 2016-194511 走査プローブ顕微鏡、走査プローブ顕微鏡の測定レンジ調整方法及び測定レンジ調整プログラム 2016年11月17日
特開 2016-194440 シーケンシャル型ICP発光分光分析装置および測定波長補正方法 2016年11月17日
特開 2016-188817 広がり抵抗測定方法及び広がり抵抗顕微鏡 2016年11月 4日
特開 2016-183967 2次元液体クロマトグラフ分析装置および分析法 2016年10月20日
特開 2016-183869 走査プローブ顕微鏡 2016年10月20日
特開 2016-166844 誘導結合プラズマ発生装置及び誘導結合プラズマ分析装置 2016年 9月15日
特開 2016-165665 液体混合方法及び液体混合装置 2016年 9月15日
特開 2016-161384 熱分析装置 2016年 9月 5日
特開 2016-157688 試料加工評価装置 2016年 9月 1日
特開 2016-156656 荷電粒子ビーム装置 2016年 9月 1日
特開 2016-157671 荷電粒子ビーム装置 2016年 9月 1日
特開 2016-142729 X線分析装置 2016年 8月 8日
特開 2016-143528 試料搬送機構及び真空装置 2016年 8月 8日
特開 2016-143583 イオン源、イオンビーム装置および試料の加工方法 2016年 8月 8日

38 件中 1-15 件を表示

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2016-223959 2016-194511 2016-194440 2016-188817 2016-183967 2016-183869 2016-166844 2016-165665 2016-161384 2016-157688 2016-156656 2016-157671 2016-142729 2016-143528 2016-143583

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