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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第891位 30件
（
2016年：第763位 38件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第723位 32件
（
2016年：第808位 29件）
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2017-223670 | 液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフの検出器出力値変動補正手段 | 2017年12月21日 | |
| 特開 2017-187455 | 熱分析装置、及び試料分析システム | 2017年10月12日 | |
| 特開 2017-183280 | 断面加工観察方法、断面加工観察装置 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-182923 | 試料ホルダー、集束イオンビーム装置 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-181323 | 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-181135 | 走査型プローブ顕微鏡及びそのプローブ接触検出方法 | 2017年10月 5日 | |
| 特開 2017-174748 | 制御装置、荷電粒子ビーム装置、プログラム及び加工品を生産する方法 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-173145 | 放射線分析装置、及び放射線分析方法 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-173209 | 試料容器及び熱分析装置 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-174503 | 集束イオンビーム装置 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-174730 | 荷電粒子ビーム装置及びプラズマ点火方法 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-174773 | 荷電粒子ビーム装置 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-174504 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-167030 | Ｘ線分析装置 | 2017年 9月21日 | |
| 特開 2017-107874 | 集束イオンビーム装置及び断面加工観察方法 | 2017年 6月15日 |
31 件中 1-15 件を表示
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2017-223670 2017-187455 2017-183280 2017-182923 2017-181323 2017-181135 2017-174748 2017-173145 2017-173209 2017-174503 2017-174730 2017-174773 2017-174504 2017-167030 2017-107874
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