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株式会社日立ハイテクサイエンス

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　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第982位　31件（2016年：第782位　38件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第724位　32件（2016年：第808位　29件）

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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2017-223670	液体クロマトグラフおよび液体クロマトグラフの検出器出力値変動補正手段	2017年12月21日
特開 2017-187455	熱分析装置、及び試料分析システム	2017年10月12日
特開 2017-181135	走査型プローブ顕微鏡及びそのプローブ接触検出方法	2017年10月 5日
特開 2017-181323	走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法	2017年10月 5日
特開 2017-182923	試料ホルダー、集束イオンビーム装置	2017年10月 5日
特開 2017-183280	断面加工観察方法、断面加工観察装置	2017年10月 5日
特開 2017-173145	放射線分析装置、及び放射線分析方法	2017年 9月28日
特開 2017-173209	試料容器及び熱分析装置	2017年 9月28日
特開 2017-174503	集束イオンビーム装置	2017年 9月28日
特開 2017-174504	複合荷電粒子ビーム装置	2017年 9月28日
特開 2017-174730	荷電粒子ビーム装置及びプラズマ点火方法	2017年 9月28日
特開 2017-174748	制御装置、荷電粒子ビーム装置、プログラム及び加工品を生産する方法	2017年 9月28日
特開 2017-174773	荷電粒子ビーム装置	2017年 9月28日
特開 2017-167030	Ｘ線分析装置	2017年 9月21日
特開 2017-107874	集束イオンビーム装置及び断面加工観察方法	2017年 6月15日

32 件中 1-15 件を表示

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2017-223670 2017-187455 2017-181135 2017-181323 2017-182923 2017-183280 2017-173145 2017-173209 2017-174503 2017-174504 2017-174730 2017-174748 2017-174773 2017-167030 2017-107874

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