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株式会社日立ハイテクサイエンス

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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-217898	試料作製装置及び試料作製方法	2013年10月24日
特開 2013-217915	蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法	2013年10月24日
特開 2013-211280	複合集束イオンビーム装置及びそれを用いた加工観察方法、加工方法	2013年10月10日
特開 2013-200991	エミッタの作製方法	2013年10月 3日
特開 2013-200987	断面加工観察装置	2013年10月 3日
特開 2013-200986	イオンビーム装置	2013年10月 3日
特開 2013-195380	試料作製方法	2013年 9月30日
特開 2013-197044	断面加工観察方法及び装置	2013年 9月30日
特開 2013-196972	試料観察方法、試料作製方法及び荷電粒子ビーム装置	2013年 9月30日
特開 2013-196862	集束イオンビーム装置およびイオンビーム光学系の調整方法	2013年 9月30日
特開 2013-196863	荷電粒子ビーム装置及び試料搬送装置	2013年 9月30日
特開 2013-197046	複合荷電粒子ビーム装置	2013年 9月30日
特開 2013-185834	熱分析装置	2013年 9月19日
特開 2013-178287	走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法	2013年 9月 9日
特開 2013-178275	示差走査熱量計	2013年 9月 9日

25 件中 1-15 件を表示

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2013-217898 2013-217915 2013-211280 2013-200991 2013-200987 2013-200986 2013-195380 2013-197044 2013-196972 2013-196862 2013-196863 2013-197046 2013-185834 2013-178287 2013-178275

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