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株式会社日立ハイテクサイエンス
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-217898 | 試料作製装置及び試料作製方法 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-217915 | 蛍光Ｘ線分析装置及び蛍光Ｘ線分析方法 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-211280 | 複合集束イオンビーム装置及びそれを用いた加工観察方法、加工方法 | 2013年10月10日 | |
| 特開 2013-200991 | エミッタの作製方法 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-200987 | 断面加工観察装置 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-200986 | イオンビーム装置 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-195380 | 試料作製方法 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-197044 | 断面加工観察方法及び装置 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-196972 | 試料観察方法、試料作製方法及び荷電粒子ビーム装置 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-196862 | 集束イオンビーム装置およびイオンビーム光学系の調整方法 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-196863 | 荷電粒子ビーム装置及び試料搬送装置 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-197046 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-185834 | 熱分析装置 | 2013年 9月19日 | |
| 特開 2013-178287 | 走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 | 2013年 9月 9日 | |
| 特開 2013-178275 | 示差走査熱量計 | 2013年 9月 9日 |
25 件中 1-15 件を表示
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2013-217898 2013-217915 2013-211280 2013-200991 2013-200987 2013-200986 2013-195380 2013-197044 2013-196972 2013-196862 2013-196863 2013-197046 2013-185834 2013-178287 2013-178275
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