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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第771位 39件
（
2014年：第986位 28件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第907位 23件
（2014年：第1008位 28件）
（ランキング更新日：2025年5月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2015-194345 | カンチレバーの振動特性測定方法及び振動特性測定プログラム | 2015年11月 5日 | |
| 特開 2015-194402 | ＩＣＰ発光分光分析装置 | 2015年11月 5日 | |
| 特開 2015-194423 | Ｘ線透過検査装置 | 2015年11月 5日 | |
| 特開 2015-190778 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2015年11月 2日 | |
| 特開 2015-187597 | 熱分析装置 | 2015年10月29日 | |
| 特開 2015-184039 | Ｘ線分析装置 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-184040 | エネルギー分散型Ｘ線分析装置及びエネルギー分散型Ｘ線分析方法 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-184041 | Ｘ線分析装置 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-184066 | 断面加工方法 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-184167 | ＩＣＰ発光分光分析装置 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-184267 | ＩＣＰ発光分光分析装置 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-185326 | 荷電粒子ビーム装置 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-185327 | 集束イオンビーム装置 | 2015年10月22日 | |
| 特開 2015-179039 | ＩＣＰ発光分光分析装置 | 2015年10月 8日 | |
| 特開 2015-175618 | 熱分析装置用撮像装置、及びそれを備えた熱分析装置 | 2015年10月 5日 |
39 件中 1-15 件を表示
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2015-194345 2015-194402 2015-194423 2015-190778 2015-187597 2015-184039 2015-184040 2015-184041 2015-184066 2015-184167 2015-184267 2015-185326 2015-185327 2015-179039 2015-175618
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