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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第886位 33件 (2018年:第838位 33件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2019-212636 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2019年12月12日 | |
特開 2019-191087 | 干渉信号の位相補正方法 | 2019年10月31日 | |
特開 2019-182487 | 管理タグ及び管理タグ付き容器 | 2019年10月24日 | |
特開 2019-179700 | 荷電粒子ビーム装置 | 2019年10月17日 | |
特開 2019-174315 | 原子吸光光度計における極微量分析診断方法および装置 | 2019年10月10日 | |
特開 2019-174399 | クロマトグラフのデータ処理装置、データ処理方法、およびクロマトグラフ | 2019年10月10日 | |
特開 2019-168400 | 走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法 | 2019年10月 3日 | |
特開 2019-160432 | 断面加工観察装置、断面加工観察方法及びプログラム | 2019年 9月19日 | |
特開 2019-148550 | 薄片試料作製装置および薄片試料作製方法 | 2019年 9月 5日 | |
特開 2019-144006 | プラスチック標準物質およびその製造方法 | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-145304 | 荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置のステージ駆動範囲制限方法およびプログラム | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-145328 | 荷電粒子ビーム装置、試料加工観察方法 | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-145443 | エミッターの作製方法 | 2019年 8月29日 | |
特開 2019-128302 | 走査プローブ顕微鏡 | 2019年 8月 1日 | |
特開 2019-121581 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2019年 7月22日 |
34 件中 1-15 件を表示
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2019-212636 2019-191087 2019-182487 2019-179700 2019-174315 2019-174399 2019-168400 2019-160432 2019-148550 2019-144006 2019-145304 2019-145328 2019-145443 2019-128302 2019-121581
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