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株式会社日立ハイテクサイエンス

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　■　2019年出願公開件数ランキング　　　第886位　33件（2018年：第838位　33件）

　■　2019年特許取得件数ランキング　　　第729位　30件（2018年：第744位　29件）

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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2019-212636	複合荷電粒子ビーム装置	2019年12月12日
特開 2019-191087	干渉信号の位相補正方法	2019年10月31日
特開 2019-182487	管理タグ及び管理タグ付き容器	2019年10月24日
特開 2019-179700	荷電粒子ビーム装置	2019年10月17日
特開 2019-174315	原子吸光光度計における極微量分析診断方法および装置	2019年10月10日
特開 2019-174399	クロマトグラフのデータ処理装置、データ処理方法、およびクロマトグラフ	2019年10月10日
特開 2019-168400	走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法	2019年10月 3日
特開 2019-160432	断面加工観察装置、断面加工観察方法及びプログラム	2019年 9月19日
特開 2019-148550	薄片試料作製装置および薄片試料作製方法	2019年 9月 5日
特開 2019-144006	プラスチック標準物質およびその製造方法	2019年 8月29日
特開 2019-145304	荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置のステージ駆動範囲制限方法およびプログラム	2019年 8月29日
特開 2019-145328	荷電粒子ビーム装置、試料加工観察方法	2019年 8月29日
特開 2019-145443	エミッターの作製方法	2019年 8月29日
特開 2019-128302	走査プローブ顕微鏡	2019年 8月 1日
特開 2019-121581	質量分析装置及び質量分析方法	2019年 7月22日

34 件中 1-15 件を表示

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2019-212636 2019-191087 2019-182487 2019-179700 2019-174315 2019-174399 2019-168400 2019-160432 2019-148550 2019-144006 2019-145304 2019-145328 2019-145443 2019-128302 2019-121581

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