ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクサイエンス > 2014年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクサイエンス)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第986位 28件 (2013年:第1169位 25件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1008位 28件 (2013年:第1072位 26件)
(ランキング更新日:2024年9月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-222674 | 電子顕微鏡 | 2014年11月27日 | |
特開 2014-209450 | 集束イオンビーム装置、それを用いた試料の加工方法、及び集束イオンビーム加工用コンピュータプログラム | 2014年11月 6日 | |
特開 2014-190921 | 蛍光X線分析装置 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-190923 | アクチュエータの位置算出装置、位置算出方法及び位置算出プログラム | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-190958 | ICP発光分光分析装置 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-191862 | 荷電粒子ビーム装置および観察像形成方法 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-191864 | 集束イオンビーム装置、及び集束イオンビームの照射方法 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-191872 | エミッタ構造体、ガスイオン源、及び集束イオンビーム装置 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-191982 | 集束イオンビーム装置及びその制御方法 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-192037 | 荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置を用いた試料の加工方法、及び荷電粒子ビーム装置を用いた試料の加工コンピュータプログラム | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-192090 | 集束イオンビーム装置、それを用いた試料の断面観察方法、及び集束イオンビームを用いた試料の断面観察用コンピュータプログラム | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-190791 | 蛍光X線分析装置 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-190833 | ICP分析装置 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-190922 | 異物検出装置 | 2014年10月 6日 | |
特開 2014-186894 | 集束イオンビーム装置 | 2014年10月 2日 |
28 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-222674 2014-209450 2014-190921 2014-190923 2014-190958 2014-191862 2014-191864 2014-191872 2014-191982 2014-192037 2014-192090 2014-190791 2014-190833 2014-190922 2014-186894
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクサイエンスの知財の動向チェックに便利です。
9月24日(火) -
9月24日(火) -
9月24日(火) - 石川 金沢市
9月24日(火) -
9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) -
最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
9月25日(水) - 東京 港
9月25日(水) -
9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月26日(木) -
9月26日(木) -
9月27日(金) -
9月27日(金) - 東京 23区
9月27日(金) - 神奈川 川崎市
9月27日(金) - 東京 港区
9月24日(火) -
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台6-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪府大阪市中央区北浜3丁目5-19 淀屋橋ホワイトビル2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区新橋6-20-4 新橋パインビル5階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング