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株式会社日立ハイテクサイエンス

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　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第957位　28件（2019年：第886位　33件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第843位　24件（2019年：第729位　30件）

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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-205289	試料加工評価装置	2020年12月24日
特開 2020-157190	生体成分分離用高分子ファイバー、生体成分分離用カラム、計測装置及び生体成分分離装置	2020年10月 1日
特開 2020-159753	遠心分離カラム及び分析対象物質の分析方法	2020年10月 1日
特開 2020-160187	マスク修正装置、及びマスク修正方法	2020年10月 1日
特開 2020-161250	マスク欠陥修正装置、及びマスク欠陥修正方法	2020年10月 1日
特開 2020-161262	エミッタの作製方法、エミッタ及び集束イオンビーム装置	2020年10月 1日
特開 2020-161268	荷電粒子ビーム装置、及び制御方法	2020年10月 1日
特開 2020-153864	クロマトグラフのデータ処理装置、データ処理方法、およびクロマトグラフ	2020年 9月24日
特開 2020-154167	三次元形状測定方法および三次元形状測定装置	2020年 9月24日
特開 2020-148477	熱分析装置	2020年 9月17日
特開 2020-148547	蛍光光度計および観測方法	2020年 9月17日
特開 2020-143922	Ｘ線検査装置及びＸ線検査方法	2020年 9月10日
特開 2020-139775	クロマトグラフ装置	2020年 9月 3日
特開 2020-139958	自動試料作製装置および自動試料作製方法	2020年 9月 3日
特開 2020-134206	薄膜試料片作成方法および荷電粒子ビーム装置	2020年 8月31日

28 件中 1-15 件を表示

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2020-205289 2020-157190 2020-159753 2020-160187 2020-161250 2020-161262 2020-161268 2020-153864 2020-154167 2020-148477 2020-148547 2020-143922 2020-139775 2020-139958 2020-134206

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