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株式会社日立ハイテクサイエンス

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  2017年 出願公開件数ランキング    第982位 31件 下降2016年:第782位 38件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第724位 32件 上昇2016年:第808位 29件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2017-102100 発生ガス分析方法及び発生ガス分析装置 2017年 6月 8日
特開 2017-102101 発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法 2017年 6月 8日
特開 2017-102102 発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法 2017年 6月 8日
特開 2017-96695 発生ガス分析装置の校正方法及び発生ガス分析装置 2017年 6月 1日
再表 2016-2719 自動試料作製装置 2017年 4月27日
特開 2017-72399 X線検査装置及びX線検査方法 2017年 4月13日
特開 2017-69017 画像取得方法およびイオンビーム装置 2017年 4月 6日
特開 2017-69024 試料位置合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 2017年 4月 6日
特開 2017-53778 X線検査方法及びX線検査装置 2017年 3月16日
特開 2017-54632 集束イオンビーム装置 2017年 3月16日
特開 2017-49087 走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡の光軸調整方法 2017年 3月 9日
特開 2017-50120 試料ホルダ及び試料ホルダ群 2017年 3月 9日
特開 2017-50181 搬送装置、処理装置、真空装置および荷電粒子ビーム装置 2017年 3月 9日
特開 2017-50368 搬送装置、真空装置および荷電粒子ビーム装置 2017年 3月 9日
特開 2017-44557 X線分析装置 2017年 3月 2日

32 件中 16-30 件を表示

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2017-102100 2017-102101 2017-102102 2017-96695 2016-2719 2017-72399 2017-69017 2017-69024 2017-53778 2017-54632 2017-49087 2017-50120 2017-50181 2017-50368 2017-44557

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