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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第982位 31件 (2016年:第782位 38件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第724位 32件 (2016年:第808位 29件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2017-102100 | 発生ガス分析方法及び発生ガス分析装置 | 2017年 6月 8日 | |
特開 2017-102101 | 発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法 | 2017年 6月 8日 | |
特開 2017-102102 | 発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法 | 2017年 6月 8日 | |
特開 2017-96695 | 発生ガス分析装置の校正方法及び発生ガス分析装置 | 2017年 6月 1日 | |
再表 2016-2719 | 自動試料作製装置 | 2017年 4月27日 | |
特開 2017-72399 | X線検査装置及びX線検査方法 | 2017年 4月13日 | |
特開 2017-69017 | 画像取得方法およびイオンビーム装置 | 2017年 4月 6日 | |
特開 2017-69024 | 試料位置合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 | 2017年 4月 6日 | |
特開 2017-53778 | X線検査方法及びX線検査装置 | 2017年 3月16日 | |
特開 2017-54632 | 集束イオンビーム装置 | 2017年 3月16日 | |
特開 2017-49087 | 走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡の光軸調整方法 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-50120 | 試料ホルダ及び試料ホルダ群 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-50181 | 搬送装置、処理装置、真空装置および荷電粒子ビーム装置 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-50368 | 搬送装置、真空装置および荷電粒子ビーム装置 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-44557 | X線分析装置 | 2017年 3月 2日 |
32 件中 16-30 件を表示
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2017-102100 2017-102101 2017-102102 2017-96695 2016-2719 2017-72399 2017-69017 2017-69024 2017-53778 2017-54632 2017-49087 2017-50120 2017-50181 2017-50368 2017-44557
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