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株式会社日立ハイテクサイエンス

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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6250294	集束イオンビーム装置、それを用いた試料の断面観察方法、及び集束イオンビームを用いた試料の断面観察用コンピュータプログラム	2017年12月20日
特許 6250331	複合荷電粒子ビーム装置及び薄片試料加工方法	2017年12月20日
特許 6246113	熱分析装置	2017年12月13日
特許 6239401	荷電粒子ビーム装置	2017年11月29日
特許 6236480	エミッタの作製方法	2017年11月22日
特許 6226781	集束イオンビーム装置、それを用いた試料の加工方法、及び集束イオンビーム加工用コンピュータプログラム	2017年11月 8日
特許 6222805	荷電粒子ビーム装置および観察像形成方法	2017年11月 1日
特許 6218656	荷電粒子ビーム装置	2017年10月25日
特許 6219760	ＩＣＰ発光分光分析装置	2017年10月25日
特許 6220306	カンチレバーの振動特性測定方法及び振動特性測定プログラム	2017年10月25日
特許 6212416	熱分析装置用撮像装置、及びそれを備えた熱分析装置	2017年10月11日
特許 6207081	集束イオンビーム装置	2017年10月 4日
特許 6165643	荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置の制御方法及び断面加工観察装置	2017年 7月19日
特許 6126425	集束イオンビーム装置及びその制御方法	2017年 5月10日
特許 6121767	集束イオンビーム装置、及び集束イオンビームの照射方法	2017年 4月26日

32 件中 1-15 件を表示

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6250294 6250331 6246113 6239401 6236480 6226781 6222805 6218656 6219760 6220306 6212416 6207081 6165643 6126425 6121767

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