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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第886位 33件 (2018年:第838位 33件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第729位 30件 (2018年:第744位 29件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2019-109260 | 3次元微動測定装置 | 2019年 7月 4日 | |
特開 2019-102138 | 断面加工観察方法、荷電粒子ビーム装置 | 2019年 6月24日 | |
特開 2019-102242 | 単原子終端構造を有するイオン源および電子源、単原子終端構造を有するティップ、ガス電界電離イオン源、集束イオンビーム装置、電子源、電子顕微鏡、マスク修正装置、並びに単原子終端構造を有するティップの製造方法 | 2019年 6月24日 | |
特開 2019-95206 | 試料分析システム、表示方法及び試料分析方法 | 2019年 6月20日 | |
特開 2019-96395 | 荷電粒子ビーム装置 | 2019年 6月20日 | |
特開 2019-90813 | 液体クロマトグラフデータ処理装置 | 2019年 6月13日 | |
特開 2019-56620 | クロマトグラフのデータ処理装置 | 2019年 4月11日 | |
特開 2019-45402 | 蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法 | 2019年 3月22日 | |
特開 2019-39690 | 分析装置及び分析方法 | 2019年 3月14日 | |
特開 2019-39797 | 恒温装置、及びそれを備えた分析装置 | 2019年 3月14日 | |
特開 2019-27795 | 放射線分析装置 | 2019年 2月21日 | |
特開 2019-23570 | 発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法 | 2019年 2月14日 | |
特開 2019-23571 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2019年 2月14日 | |
特開 2019-23572 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2019年 2月14日 | |
特開 2019-23633 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2019年 2月14日 |
34 件中 16-30 件を表示
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2019-109260 2019-102138 2019-102242 2019-95206 2019-96395 2019-90813 2019-56620 2019-45402 2019-39690 2019-39797 2019-27795 2019-23570 2019-23571 2019-23572 2019-23633
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
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9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月25日(水) - 東京 千代田区
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9月26日(木) -
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9月27日(金) - 東京 港区
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