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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第886位 33件
（
2018年：第838位 33件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第729位 30件
（
2018年：第744位 29件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6622570 | 発生ガス分析装置の校正方法及び発生ガス分析装置 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6608769 | イオンビーム装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6602630 | Ｘ線検査装置及びＸ線検査方法 | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6589461 | Ｘ線分析装置 | 2019年10月16日 | |
| 特許 6588278 | 走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡の光軸調整方法 | 2019年10月 9日 | |
| 特許 6584113 | 広がり抵抗測定方法及び広がり抵抗顕微鏡 | 2019年10月 2日 | |
| 特許 6581790 | 走査プローブ顕微鏡 | 2019年 9月25日 | |
| 特許 6560871 | 集束イオンビーム装置 | 2019年 8月14日 | |
| 特許 6553267 | クマリンの測定方法及びクマリンの自動測定装置 | 2019年 7月31日 | |
| 特許 6548912 | 熱分析装置 | 2019年 7月24日 | |
| 特許 6541161 | 荷電粒子ビーム装置 | 2019年 7月10日 | |
| 特許 6541949 | 分光蛍光光度計及びそれを用いた三次元蛍光スペクトルの取得方法 | 2019年 7月10日 | |
| 特許 6542608 | 荷電粒子ビーム装置 | 2019年 7月10日 | |
| 特許 6529264 | 荷電粒子ビーム装置および試料観察方法 | 2019年 6月12日 | |
| 特許 6530611 | 熱分析データの処理方法および熱分析装置 | 2019年 6月12日 |
30 件中 1-15 件を表示
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6622570 6608769 6602630 6589461 6588278 6584113 6581790 6560871 6553267 6548912 6541161 6541949 6542608 6529264 6530611
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12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
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12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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12月2日(月) - 滋賀 草津市
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