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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第957位 28件
（
2019年：第886位 33件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第843位 24件
（2019年：第729位 30件）
（ランキング更新日：2025年2月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-136002 | 複合荷電粒子ビーム装置、及び制御方法 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-126852 | 荷電粒子ビーム装置 | 2020年 8月20日 | |
| 特開 2020-71904 | 荷電粒子ビーム装置 | 2020年 5月 7日 | |
| 特開 2020-64780 | 荷電粒子ビーム装置、試料加工観察方法 | 2020年 4月23日 | |
| 特開 2020-64788 | 集束イオンビーム装置及び集束イオンビーム装置の制御方法 | 2020年 4月23日 | |
| 特開 2020-56594 | クロマトグラフ | 2020年 4月 9日 | |
| 特開 2020-56595 | クロマトグラフ、およびクロマトグラフの分析方法決定装置 | 2020年 4月 9日 | |
| 特開 2020-51827 | クロマトグラフ及びクロマトグラフィの定量方法 | 2020年 4月 2日 | |
| 特開 2020-51960 | 液体クロマトグラフ分析方法及び液体クロマトグラフ分析装置 | 2020年 4月 2日 | |
| 特開 2020-38088 | クマリンの測定方法及びクマリンの自動測定装置 | 2020年 3月12日 | |
| 特開 2020-38199 | クロマトグラフ装置 | 2020年 3月12日 | |
| 特開 2020-20730 | Ｘ線透過検査装置及びＸ線透過検査方法 | 2020年 2月 6日 | |
| 特開 2020-13801 | イオンビーム装置 | 2020年 1月23日 |
28 件中 16-28 件を表示
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2020-136002 2020-126852 2020-71904 2020-64780 2020-64788 2020-56594 2020-56595 2020-51827 2020-51960 2020-38088 2020-38199 2020-20730 2020-13801
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
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