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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第957位 28件
（
2019年：第886位 33件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第843位 24件
（2019年：第729位 30件）
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6783456 | Ｘ線透過検査装置 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6771767 | 集束イオンビーム装置 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6773446 | ２次元液体クロマトグラフ分析装置および分析法 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6762608 | 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法 | 2020年 9月30日 | |
| 特許 6762615 | ＩＣＰ発光分光分析装置 | 2020年 9月30日 | |
| 特許 6753678 | 荷電粒子ビーム装置及びプラズマ点火方法 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6753679 | 制御装置、荷電粒子ビーム装置、プログラム及び加工品を生産する方法 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6745621 | 放射線分析装置、及び放射線分析方法 | 2020年 8月26日 | |
| 特許 6735382 | ３次元微動測定装置 | 2020年 8月 5日 | |
| 特許 6730008 | 微小試料台、その製造方法および微小試料の取付方法 | 2020年 7月29日 | |
| 特許 6730140 | 発生ガス分析方法及び発生ガス分析装置 | 2020年 7月29日 | |
| 特許 6712892 | 熱分析装置、及び試料分析システム | 2020年 6月24日 | |
| 特許 6711655 | 集束イオンビーム装置 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6706519 | 走査プローブ顕微鏡、走査プローブ顕微鏡の測定レンジ調整方法及び測定レンジ調整プログラム | 2020年 6月10日 | |
| 特許 6706522 | 試料容器及び熱分析装置 | 2020年 6月10日 |
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6783456 6771767 6773446 6762608 6762615 6753678 6753679 6745621 6735382 6730008 6730140 6712892 6711655 6706519 6706522
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