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株式会社日立ハイテクサイエンス

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  2020年 特許取得件数ランキング    第843位 24件 下降2019年:第729位 30件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6783456 X線透過検査装置 2020年11月11日
特許 6771767 集束イオンビーム装置 2020年10月21日
特許 6773446 2次元液体クロマトグラフ分析装置および分析法 2020年10月21日
特許 6762608 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法 2020年 9月30日
特許 6762615 ICP発光分光分析装置 2020年 9月30日
特許 6753678 荷電粒子ビーム装置及びプラズマ点火方法 2020年 9月 9日
特許 6753679 制御装置、荷電粒子ビーム装置、プログラム及び加工品を生産する方法 2020年 9月 9日
特許 6745621 放射線分析装置、及び放射線分析方法 2020年 8月26日
特許 6735382 3次元微動測定装置 2020年 8月 5日
特許 6730008 微小試料台、その製造方法および微小試料の取付方法 2020年 7月29日
特許 6730140 発生ガス分析方法及び発生ガス分析装置 2020年 7月29日
特許 6712892 熱分析装置、及び試料分析システム 2020年 6月24日
特許 6711655 集束イオンビーム装置 2020年 6月17日
特許 6706519 走査プローブ顕微鏡、走査プローブ顕微鏡の測定レンジ調整方法及び測定レンジ調整プログラム 2020年 6月10日
特許 6706522 試料容器及び熱分析装置 2020年 6月10日

25 件中 1-15 件を表示

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6783456 6771767 6773446 6762608 6762615 6753678 6753679 6745621 6735382 6730008 6730140 6712892 6711655 6706519 6706522

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