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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第820位 35件
（
2020年：第957位 28件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第743位 29件
（2020年：第843位 24件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6985730 | 試料分析システム、表示方法及び試料分析方法 | 2021年12月22日 | |
| 特許 6974820 | 荷電粒子ビーム装置、試料加工方法 | 2021年12月 1日 | |
| 特許 6967340 | 複合ビーム装置 | 2021年11月17日 | |
| 特許 6967402 | 分析装置及び分析方法 | 2021年11月17日 | |
| 特許 6963338 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2021年11月 5日 | |
| 特許 6957002 | 荷電粒子ビーム装置 | 2021年11月 2日 | |
| 特許 6928943 | 荷電粒子ビーム装置 | 2021年 9月 1日 | |
| 特許 6930721 | 放射線分析装置 | 2021年 9月 1日 | |
| 特許 6931214 | 荷電粒子ビーム装置 | 2021年 9月 1日 | |
| 特許 6925608 | 断面加工観察方法、断面加工観察装置 | 2021年 8月25日 | |
| 特許 6919890 | 光分析装置用の表示装置 | 2021年 8月18日 | |
| 特許 6913344 | 荷電粒子ビーム装置 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6909487 | 携帯型情報端末、ビーム照射システム、及びプログラム | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6909618 | イオンビーム装置 | 2021年 7月28日 | |
| 特許 6906786 | 試料保持具、部材装着用器具、および荷電粒子ビーム装置 | 2021年 7月21日 |
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6985730 6974820 6967340 6967402 6963338 6957002 6928943 6930721 6931214 6925608 6919890 6913344 6909487 6909618 6906786
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