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株式会社日立ハイテクサイエンス
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（
2021年：第820位 35件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第842位 28件
（2021年：第743位 29件）
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7197134 | 蛍光光度計および観測方法 | 2022年12月27日 | |
| 特許 7190203 | 走査型プローブ顕微鏡及びそのプローブ接触検出方法 | 2022年12月15日 | |
| 特許 7187029 | クロマトグラフ装置 | 2022年12月12日 | |
| 特許 7173520 | 管理タグ及び管理タグ付き容器 | 2022年11月16日 | |
| 特許 7171010 | 断面加工観察装置、断面加工観察方法及びプログラム | 2022年11月15日 | |
| 特許 7154593 | 複合荷電粒子ビーム装置、及び制御方法 | 2022年10月18日 | |
| 特許 7152757 | 試料加工観察方法 | 2022年10月13日 | |
| 特許 7146259 | クロマトグラフデータ処理装置及び液体クロマトグラフ装置 | 2022年10月 4日 | |
| 特許 7141682 | 試料製造装置および試料片の製造方法 | 2022年 9月26日 | |
| 特許 7138340 | クロマトグラフ、およびクロマトグラフの分析方法決定装置 | 2022年 9月16日 | |
| 特許 7127883 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2022年 8月30日 | |
| 特許 7125749 | 荷電粒子ビーム装置 | 2022年 8月25日 | |
| 特許 7109051 | 荷電粒子ビーム装置 | 2022年 7月29日 | |
| 特許 7090902 | 集束イオンビーム装置及び集束イオンビーム装置の制御方法 | 2022年 6月27日 | |
| 特許 7064765 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2022年 5月11日 |
29 件中 1-15 件を表示
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7197134 7190203 7187029 7173520 7171010 7154593 7152757 7146259 7141682 7138340 7127883 7125749 7109051 7090902 7064765
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